提到電阻器的失效機理，想必很多人都不知道，其實就是導(dǎo)致電阻失效的物理、化學(xué)、熱力學(xué)或其他過程，電阻失效機理是多方面的，工作條件或環(huán)境條件下所發(fā)生的各種理化過程是引起電阻老化的原因，其中導(dǎo)電材料的結(jié)構(gòu)是導(dǎo)致其失效的重要原因。接下來我為大家進(jìn)行詳細(xì)分析。
薄膜電阻器的導(dǎo)電膜層一般是通過氣相沉積得到的，有一定程度的非結(jié)晶結(jié)構(gòu)。從熱力學(xué)的角度來看，無定形結(jié)構(gòu)有結(jié)晶的趨勢。在T工作條件或環(huán)境條件下，導(dǎo)電膜層中的非晶結(jié)構(gòu)趨于以一定的速率結(jié)晶，即導(dǎo)電材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)趨于致密，這往往會導(dǎo)致電阻值下降。結(jié)晶速率隨溫度升高而增加。

  電阻絲或電阻膜在制備過程中會受到機械應(yīng)力，其內(nèi)部結(jié)構(gòu)會發(fā)生變形。線徑越小或薄膜越薄，張力的影響越顯著。一般可采用熱處理去除內(nèi)應(yīng)力。在長期使用過程中，殘余內(nèi)應(yīng)力可逐漸消除，電阻的阻值可相應(yīng)變化。

  隨著時間的推移，結(jié)晶過程和內(nèi)部應(yīng)力消除過程都會減慢，但在使用電阻器時不可能完成。可以認(rèn)為這兩個過程在電阻I 操作期間以近似恒定的速度進(jìn)行，與它們相關(guān)的電阻變化代表原始電阻值的千分之幾。

  電荷的高溫老化： 無論如何，電荷都會加速電阻的老化過程，電荷對電阻加速老化的影響比增加的加速老化影響更顯著的溫度。原因是電阻體與電纜帽接觸部分的溫升超過了電阻的平均溫升。一般來說，溫度每升高10C，使用壽命就會減少一半。如果電阻器因過載而溫升超過額定負(fù)載。
溫升50時，電阻的使用壽命僅為正常情況下壽命的1/32。可通過不到四個月的加速壽命測試，評估10年續(xù)航的工作穩(wěn)定性。直流負(fù)荷一電解作用：直流電荷的作用下，電解導(dǎo)致電阻老化。電解發(fā)生在開槽電阻的槽內(nèi)，電阻基體中所含的堿金屬離子在槽間的電場中移動，產(chǎn)生離子電流。當(dāng)有水分時，電解過程變得更加嚴(yán)重。如果電阻膜是碳膜或金屬膜，則主要是電解氧化;如果電阻膜是金屬氧化膜，則主要是電解還原。對于高強度薄膜電阻，電解的作用會使電阻增加，沿凹槽螺旋側(cè)會發(fā)生薄膜損壞。在熱閃光環(huán)境下進(jìn)行直流負(fù)載測試，可以綜合評估電阻器基材和薄膜的抗氧化或還原能力，以及保護(hù)層的防潮性能。